ABB LGR 激光同位素测量技术发展简介 ABB LGR 激光同位素测量技术发展简介

ABB LGR 激光同位素测量技术发展简介

时间:2023-5-9 编辑:byu7043690063

ABB LGR 激光同位素测量技术发展简介

一、Anthony O’Keefe 发明CRDS技术

LGR首先制造出LossMeter,可以精确的测量光在镜面反射后的损失。(1986年)

Cavity Ring-Down Spectroscopy 光腔衰荡吸收光谱技术(1988年 )

核心:Loss meter 与99.99%高反射镜面

特点:分析光路长达km级别,极大提高激光技术检测底限

 

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                                                      CRDS技术示例

 

二、在CRDS基础上不断改进

正是因为LossMeter的问世,人们利用激光分析仪测量微量物质才有了可能(J. J. Scherer et al., 1997)。

引入经典Beer-Lambert-定律: ΔI/Io = 1-exp(-αLeff)

克服:

1、彻底解决漂移问题;

2、极大提高分析测量速度,无需等待整个Ring-Down过程;

3、简化仪器设计,无需严格温度、压力条件,使得仪器可以在恶劣环境中使用(如温度、压力、震动都无影响。在南极、北极、热带雨林、NASA飞机上等均有应用)

4、大大降低仪器功耗,分析仪仅80W

 

三、离轴积分腔光谱技术 Off-Axis ICOS(2001年) 

 

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离轴积分腔光谱技术1

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四、LGR是激光痕量分析领域绝对领导者

1、第一代激光技术,1988年,LGR创始人A. O’Keefe发明CRDS技术

2、第二代激光技术,1998年,A. O’Keefe发明ICOS技术

3、第三代激光技术,1999年,LGR发明CW-ICOS技术

4、第四代激光技术,2001年,LGR现任总裁,d.s. baer发明OA-ICOS技术

 

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